应该怎么更加完善Type-C母座？

　　type-C母座在射频连接器销售市场的拥有量是挺大的。Type-C母座的首要功能是为机器设备给予开关电源电池充电和进行传输数据，可是总的来说Type-C的普及并非很广。
通对TYPE-C母座进行模拟仿真实验可以获得特性阻抗、插损、回损和串损等要素的模拟仿真数据信息，根据对效果的充足剖析以后，发觉导致射频连接器母座信号完整性问题的首要因素是：特性阻抗起伏过大，较小值偏小，回波损耗偏大。因而，在优化TYPE-C母座时可以主要从对这两层面的优化下手。
针对TYPE-C母座在数据信号传送流程中产生的特性阻抗偏小，回波损耗稍大的问题，实质上或者特性阻抗不持续的问题。依据模拟仿真实验的結果发现，射频连接器的公头与母头相接处构造的问题造成了数据信号传送出现异常，因此优化电连接器公头与母头的触碰部分的构造是处理该电连接器信号完整性问题的关键。由于电极连接线的特性阻抗是与容抗、感抗精密有关，因此大家要想提升TYPE-C母座的特性阻抗值的话，需根据下列二种形式来进行：
1、通过更改影响TYPE-C母座感抗的参数来提升感抗；
2、通过更改影响TYPE-C母座容抗的参数来减少容抗。而充分考虑电感主要是受同轴电缆中间的间隔影响，因此假如要对影响电感的参数进行优化，那麼就必须更改线间隔，那样会促使TYPE-C母座的模型造成较大的改变，同时也会对电连接器造成更多意想不到的问题。因而，大家在优化C型USB母座时，要充分考虑各个方面的问题，不然便会发生顾此失彼的状况。